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材料科学在理解和改进塑造我们工业、技术和日常生活材料方面发挥着至关重要的作用。无论您是开发半导体领域的功能聚合物，还是历史文物的遗产修复与保护，对材料化学、结构和物理性质的深入全面探索十分有意义
我们的高分辨拉曼显微镜提供了一种非侵入性、高度敏感的分析方法，赋能科学家以高精度和细节的化学结构信息。无论是分子组成的可视化、杂质与缺陷的快速检测，还是结构取向的深入解析，本征或者外部应力的精准分析，都在助力材料工艺与性能的进步。
探索我们的拉曼系统
对于制造或质量控制领域的用户而言，WITec 拉曼显微镜提供了一种无损且多功能的解决方案，可用于材料组分分析和质量评估。凭借卓越的共焦性和纵向分辨率，我们的仪器能够精确定位样品表面或者内部的特定结构或缺陷，并获得它们的化学结构信息。
在示例中，拉曼深度成像准确识别出塑料薄膜夹杂气泡的缺陷类型。分析结果表明该缺陷是由聚酯层与聚乙烯层的粘接剂层缺失而导致。
了解材料对外部刺激的反应对于预测其性能和稳定性至关重要。拉曼显微镜可进行原位测量，使研究人员能够在不影响材料行为的情况下观察材料在实际条件下的表现。
WITec alpha300 显微镜具有卓越的灵活性，能够集成定制样品支架和针对您的特定应用量身定制的设备。这使其成为实时研究热、化学或机械影响的理想选择。
凭借我们拉曼显微镜的卓越灵敏度，材料科学家可高效检测晶体材料中的压应力和拉应力分布。这一能力使评估材料力学性能及潜在失效风险成为可能。
在示例中，拉曼和AFM图像展示了维氏压痕试验后硅材料的变形和应力场。
如需了解更多关于拉曼应力分析的信息，请参阅我们的应用笔记《半导体材料的关联拉曼成像》。
将拉曼显微镜与互补的材料分析技术相结合，以获得对样品的多维洞察，并了解其化学、结构、光学、物理和形貌特征。
WITec alpha300 显微镜可无缝集成：
了解更多关于您的应用可能性，请查阅我们的应用笔记。
ParticleScout通过实现快速扫描、分类、定量和识别颗粒，简化了颗粒分析流程。它为关注样品中污染物、颗粒形态和分布的用户提供了优化的拉曼测量模式。
探索 ParticleScout
TrueSurface通过在测量过程中校正样品的表面起伏，提升共聚焦拉曼成像性能。该功能确保对不平整或不规则表面的准确表征，特别适用于材料科学中复杂表面的研究。
探索 TrueSurface
对于拥有多个用户或需遵守严格合规规定的机构，我们提供定制化解决方案，确保受控用户访问、简化工作流程及所有测量结果的一致性。
自动化选项 – 简化且可重复的工作流程，确保不同用户和实验中结果的一致性
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