碳纳米材料,如石墨烯、碳纳米管,在众多领域中显露出巨大的应用前景,如晶体管、传感器和光电元件。多功能的表征分析技术对科学研究与探索是非常重要的,并有助于石墨烯等碳纳米材料的研发与应用。
为了对碳纳米材料进行全面的研究分析,WITec 显微镜可以配备多种成像技术,如共聚焦拉曼成像、原子力显微镜 (AFM) 以及近场显微镜(扫描近场光学显微镜,SNOM)。同时,所有 WITec 成像技术可以完全集成在一台显微镜上。为了对纳米碳样品进行全面分析和成像, WITec 还提供更广泛的成像技术联用,包括拉曼-AFM、TERS(针尖增强拉曼光谱)、近场-拉曼、或者拉曼-SEM(扫描电镜),为创新研究提供了强有力的成像技术支撑。
Raman and AFM image of the same sample area on a wrinkled CVD graphene layer.
RISE Microscopy (Raman-SEM) on a CVD graphene flake. The Raman image is overlayed on the SEM image.
AFM image of carbon nano-tubes.
Raman-AFM image of an exfoliated graphene flake.
SNOM image of exfoliated graphene.