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alpha300 RA – Raman-AFM 联用显微镜

化学成分分析和纳米结构成像联用

WITec 完善的 alpha300 RA 是市场上首个可以将拉曼与原子力高度集成的显微镜系统,并不断设定拉曼-原子力显微镜联用设备的技术标准。alpha300 RA 独特的设计理念,既保留了 alpha300 R 系列强大的化学组分分析能力,又加入了纳米级别表面形貌等特性的分析能力,让科研工作者能对样品进行深度地分析和了解。

alpha300 RA 系统将拉曼和原子力两种互补技术集成在一套系统中,通过操作软件实现应用,且两种技术的性能完全不受联用的影响、易于操作。拉曼和原子力显微镜使用不同的显微镜物镜,只需转动物镜塔轮,成像软件即可实现两种技术的图像对比、叠加和分析。

alpha300 RA 还适用于 TERS(高分辨率拉曼)AFM测量。


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主要特性

  • 同时具备 alpha300 R (拉曼) 和 alpha300 A (原子力) 显微镜的全部性能
  • 原位化学组分分析(拉曼)和纳米级别表面形貌分析(原子力)优异结合
  • 原子力与拉曼测量同时进行的绝佳选择
  • 严格原位测量,完全不需要在测试过程中移动样品
  • 只需要转动物镜塔轮即可在两种测量技术之间进行简单切换

应用实例

alpha300RA Raman AFM polymers
多组分高分子混合物,包含了1:1:1比例的聚苯乙烯(PS),充油丁苯橡胶(SRB)和丙烯酸乙基己酯(EHA)的原位拉曼及原子力图像 拉曼成像(左): 绿色:PS, 红色:SRB,蓝色:EHA
alpha300RA Raman AFM paper
共聚焦拉曼原子力图像的纤维素纤维上木材提取物的痕迹。 根据拉曼光谱,对两相纤维素(绿色,蓝色)和己烷外配剂(红色)的分布进行成像。 AFM相图像(嵌图)显示纤维素和己烷提取物之间存在明显结构差别。 拉曼图像区域20μm×40μm,80×160像素,积分时间:单谱100毫秒。
alpha300RA Raman AFM stress in silicon
拉曼-原子力联用显微镜对硅中的应力分析。 左图:10μm×10μm的原子力表面拓扑结构和深度轮廓图(底部)。 右图:显示硅中应力区域所对应的拉曼图像。 第一级硅线(左)和用蓝色(右)标记的横截面上强度分布的共焦拉曼图像。

技术规格

拉曼常规操作模式

  • 拉曼光谱成像:每个样品点都能获取一张完整的拉曼光谱
  • 平面(x-y方向)和纵向(z方向)手动定位样品进行扫描
  • 图像叠加:3D共焦拉曼成像
  • 时间序列
  • 单点拉曼光谱采集
  • 单点深度序列采集
  • 光纤耦合的超高光通量光谱仪 (UHTS),专为弱光拉曼显微镜设计
  • 共聚焦荧光显微镜
  • 明场显微镜

原子力常规操作模式

  • 接触模式
  • AC 模式 (轻敲模式)
  • 数字脉冲力模式 (DPFM)
  • 抬高模式 (Lift Mode™)
  • 磁力显微镜 (MFM)
  • 静电力显微镜 (EFM)
  • 力曲线分析
  • 微纳处理/光刻
  • 横向力显微镜 (LFM)
  • 开尔文探针显微镜
  • 化学力显微镜 (CFM)
  • 电流感应模式
  • 更多定制要求

基本特征

  • 科研级别的6孔物镜塔轮光学显微镜
  • CCD摄像头
  • 高灵敏度黑白摄像头,可在传输过程中查看样品和AFM针尖
  • 白光LED光源用于AFM尖端和样品科勒照明
  • x和y方向上手动定位样品
  • 光纤耦合
  • 显微镜底座带有主动隔震系统

拉曼可选/升级操作模式

  • 可选多种激光和波长
  • 可选光谱仪UHTS (UV, VIS, NIR)
  • 自动样品定位和压电扫描台测量,25 mm 位移范围 (50 mm 位移可选)
  • 自动共聚焦拉曼成像 (25 x 25 mm²;  50 x 50 mm²可选)
  • 自动多区域多点测量
  • 可选超快速拉曼成像 (1300条光谱每秒) 
  • 可升级落射荧光应用
  • 可配备用于更高样本的适配器 
  • TrueSurface 拉曼形貌分析
  • 自动对焦

软件界面

TERS:

WITec 独特的 alpha300 RA 显微镜系统集拉曼技术和原子力技术于一体,可以为TERS实验提供优化设备。

WITec TERS 优势

  • 独特的拉曼-原子力联用技术,可从来源上保证针尖增强拉曼散射(TERS)实验的可靠性。
  • 可以不同方向对样品进行照明

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