涂层与薄膜

涂层与薄膜的设计和研发是为了改良与调控材料的表面特性。为了获得最佳性能的材料，探索与了解材料的结构、形态和材料性质的内在联系是非常重要的。 WITec 共聚焦拉曼显微镜利用可视觉化彩色编码的拉曼图像来呈现材料不同成分的化学成分与物理性质的空间分布，特别适合多成分涂层系统的研究与分析。

对于涂层与薄膜研究，拉曼成像系统的深度分辨率是至关重要的，即能否区别 Z 方向上的不同薄层。深度分辨率非常依赖显微镜的共聚焦性，而 WITec 共聚焦拉曼系统采用最佳的光纤共聚焦设计，非常适合于涂层与薄膜的深度拉曼分析。

WITec 多功能显微镜可结合不同的成像技术，大大提升对样品的分析能力，有助于全面地了解样品信息。 一套显微系统同时集成了多种表征技术，如共聚焦拉曼成像、原子力显微镜 (AFM)、近场显微镜 (SNOM)或扫描电镜 (SEM)。共聚焦拉曼成像可以提供高灵敏的化学信息，AFM 可以探测样品形貌、结构及物理性质（如样品表面硬度、粘附性等），SNOM 则可实现超衍射的光学空间分辨。所有 WITec 仪器配置随时均可升级，从而使系统满足客户测试与扩展的新要求。