WITec 技术

WITec 专注于无损纳米分析技术，如拉曼成像、原子力和扫描近场光学。我们在共聚焦拉曼显微镜和扫描探针显微镜方面长期积累的专业经验，以及与时俱进、积极创新，不断研发新的成像技术，确保了WITec系统的优异性能和长期可靠性。

无论是标准技术，还是联用技术，WITec 都能提供极佳的高分辨率成像技术方案。

 

我们的关键技术有：

共聚焦拉曼成像：鉴定样品化学成分的光谱技术。

原子力显微镜 (AFM)：样品形貌与表面特性可视化的高分辨率成像技术。

扫描近场光学显微镜 (SNOM)：超越衍射极限分辨率的光学成像技术（60–100 nm 的横向分辨率）。